產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-03
SO1500輻射測(cè)量?jī)x--上海遂歐儀器有限公司◆輻射類(lèi)型:X,γ◆探測(cè)器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體◆測(cè)量范圍:0.01 ~ 200μSv/h◆測(cè)量精度:± 10%(100 μSv/h,137Cs)◆能量響應(yīng): 40 keV ~ 1.3 MeV◆響應(yīng)時(shí)間:< 3 s
SO1500輻射測(cè)量?jī)x--上海遂歐儀器有限公司
主要用于環(huán)境輻射本底以及低水平X、γ輻射的準(zhǔn)確快速測(cè)量,儀器采用NaI晶體作為探測(cè)器,具有靈敏度高的特性。儀器攜帶方便,易 于操作。本儀表可用于環(huán)保部門(mén)檢測(cè)環(huán)境本底情況,監(jiān)測(cè)射線設(shè)備附近本底,無(wú)損檢驗(yàn)(即射線探傷)裝置是否有輻射泄漏,核電站附近居民區(qū)環(huán)境本 底測(cè)量,農(nóng)業(yè)部門(mén)的輻照育種設(shè)備是否有輻射泄漏。適用人群和機(jī)構(gòu)有:環(huán)境監(jiān)測(cè)機(jī)構(gòu),醫(yī)院輻射醫(yī)療設(shè)備操作管理人員,射線探傷裝置的操作和管理人員,經(jīng)常需 要使用放射源的劑量刻度站和研究核輻射和輻射儀表的科研人員等。
【技術(shù)指標(biāo)】
◆輻射類(lèi)型:X,γ
◆探測(cè)器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體
◆測(cè)量范圍:0.01 ~ 200μSv/h
◆測(cè)量精度:± 10%(100 μSv/h,137Cs)
◆能量響應(yīng): 40 keV ~ 1.3 MeV
◆響應(yīng)時(shí)間:< 3 s
◆工作時(shí)間:4節(jié)AA1.5V電池
◆機(jī)械尺寸:主機(jī):寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm
◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄)
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